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淺析激光粒度儀各種方法的優(yōu)缺點

更新時間:2022-06-17

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   激光粒度儀是基于光衍射現(xiàn)象設計的,當光通過顆粒時產生衍射現(xiàn)象(其本質是電磁波和物質的相互作用)。衍射光的角度與顆粒的大小成反比。
  基本概念
  1、顆粒:具有一定尺寸和形狀的微小物體,是組成粉體的基本單元。它宏觀很小,但微觀卻包含大量的分子和原子。
  2、粒度:顆粒的大??;
  3、粒度分布:用一定的方法反映出一系列不同粒徑顆粒分別占粉體總量的百分比。
  4、粒度分布的表示方法:表格法(區(qū)間分布和累積分布)、圖形法、函數(shù)法,常見的有R-R分布,正態(tài)分布等。
  5、粒徑:顆粒的直徑,一般以微米為單位。
  6、等效粒徑:指當一個顆粒的某一物理特性與同質球形顆粒相同或相近時,我們就用該球形顆粒的直徑來代表這個實際顆粒的直徑。
  激光粒度儀各種方法的優(yōu)缺點:
  1、篩分法:優(yōu)點:簡單、直觀、設備造價低、常用于大于40μm的樣品。缺點:不能用于40μm以細的樣品;結果受人為因素和篩孔變形影響較大。
  2、顯微鏡法:優(yōu)點:簡單、直觀、可進行形貌分析。缺點:速度慢、代表性差,無法測超細顆粒。
  3、沉降法(包括重力沉降和離心沉降):優(yōu)點:操作簡便,儀器可以連續(xù)運行,價格低,準確性和重復性較好,測試范圍較大。缺點:測試時間較長。
  4、電阻法:優(yōu)點:操作簡便,可測顆粒總數(shù),等效概念明確,速度快,準確性好。缺點:測試范圍較小,小孔容易被顆粒堵塞,介質應具備嚴格的導電特性。
  5、電鏡法:優(yōu)點:適合測試超細顆粒甚至納米顆粒、分辨率高。缺點:樣品少、代表性差、儀器價格昂貴。
  6、超聲波法:優(yōu)點:可對高濃度漿料直接測量。缺點:分辨率較低。
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